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多选奥林巴斯带延迟块测厚仪探头的详细资料

奥林巴斯带延迟块测厚仪探头V201-RM 至V208-RM 超薄工件测厚

我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的OlympusNDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分析等特殊应用的各种各样的定制探头。

 

优势

• 强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。• 较高的探头频率提高了分辨率。• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。• 具有外形吻合性能,适用于曲面工件。

应用

• 测厚。• 垂直声束缺陷探测。• 对接触区域有限的工件进行检测。

可更换延迟块探头

• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和 一个固定环。• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。

奥林巴斯带延迟块测厚仪探头

选购型号:

频率标称晶片尺寸探头工件编号
MHz英寸毫米
2.250.256V204-RM
50.5013V206-RM
0.256V201-RM
100.256V202-RM
0.1253V203-RM
150.256V205-RM
200.1253V208-RM


可更换延迟块探头选项

标准晶片尺寸标称延迟块高温干耦合延迟块 备用固定环带有弹簧的支架
*高175°C(350°F)*高260°C(500°F)*高480°C(900°F)
英寸毫米
0.5013DLH-2DLHT-201DLHT-2DLHT-2GDLS-2DRR-22130
0.256DLH-1DLHT-101DLHT-1DLHT-1GDLS-1DRR-12127&DRR-1H
0.1253DLH-3DLHT-301DLHT-3DLHT-3GDLS-3DRR-3

2133&DRR-3H


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