奥林巴斯超声测厚仪45MG
操作简便、坚固耐用、性能可靠
•彩色透反QVGA显示
•双晶腐蚀测厚
•精确厚度测量
•坚固耐用，设计符合IP67标准
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
抵御恶劣环境的能力
• 坚固耐用，设计符合IP67标准。
• 爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA•70）500节I级2分段D组规定的爆炸气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
• 防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15•g，11•msec半弦波。
• 防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
• 宽泛的操作温度范围
• 可选的带有支架的橡胶保护套
简便操作的设计理念
• 可只用右手或左手操作的简洁的键区
• 可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
• 使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式
• USB通讯端口
• 可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
• 默认或自定义单晶探头设置（可选）
• 密码保护方式的仪器锁定
• 彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有很高的清晰度
标准功能
45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过最基本的培训，就可完成常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
• 与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
• 最小值/最大值模式
• 两个报警模式
• 差值模式
• 时基B扫描
• 缩减率
• 增益调整（标准、高、低）
• 密码式仪器锁定
可选功能
只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身
45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途很广泛的测厚仪行列
回波到回波/穿透涂层
使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层
单晶
这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。可与范围在2.25MHz到30MHz的单晶Microscan探头相兼容
单晶高穿透
这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或•铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5MHz到30MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器
45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描
用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、回波空白、范围及延迟参数。
对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量
使用双晶探头
45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。
• 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能
• 当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告
• 回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面
• 高温测量：温度可高达500•℃
对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料•进行厚度测量
使用单晶探头
用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与
单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。
• 在使用频率范围为2.25•MHz到30•MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
• 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 测量厚度、声速或渡越时间。
• 自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作。
奥林巴斯超声测厚45MG
测量
双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波
（可选）在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量
（可选）
利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头）
单晶探头测量模式（可选）
模式1： 激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔
模式2： 延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔
（使用延迟块式或水浸式探头）
模式3： 在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相
邻底面回波之间的时间间隔
（使用延迟块式或水浸式探头）
厚度范围 0.080mm～635mm，视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量很全的范围需要使用单晶选项）
材料声速范围0.508mm/μs～18.699mm/μs
分辨率（可选择）
低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
单晶选项：0.001毫米
探头频率范围标准：2.25MHz～30MHz（–3dB）
高穿透（单晶选项）：0.50MHz～30MHz（–3dB）
一般规格
操作温度范围–10℃～50℃
键盘密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。
设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽x高x厚）总体尺寸：91.1毫米x162毫米x41.1毫米
重量431克
电源
3节AA电池/USB电源供应电池工作时间３节AA碱性电池：20到21小时
3节AA镍氢电池：22到23小时
3节AA锂离子电池：35到36小时标准设计符合EN15317标准。
显示
彩色透反QVGA显示液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米x41.15毫米检波全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）
输入/输出
USB 2.0从接口
存储卡最大容量：2GB可插拔MicroSD存储卡内置数据记录器（可选）
数据记录器45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形文件名称和ID编码32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
文件结构6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构报告
机载报告总结了数据统计、带有位置信息的最小值/最大值、最小值回顾、文件比较及报警报告
标准配置
• 45MG数字式超声测厚仪
• AA碱性电池
• 2阶试块和耦合剂
• USB线缆
• 用户手册，存于CD盘上
• 测量功能：最小值/最大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
软件选项
45MG-SE(U8147022)：单晶选项，使用频率范围为
2.25MHz～30MHz的单晶探头。
45MG-HP(U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5•MHz～30•MHz的单晶探头。
45MG-EETC(U8147021)：回波到回波和穿透涂层
45MG-WF(U8147019)：波形选项
45MG-DL(U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序
选购附件
MICROSD-ADP-2GB(U8779307)：2GB外置MicroSD存储卡
45MG/RPC(U8779676)：带支架的橡胶保护套
