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新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪
更新时间：2024-04-01
新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪采用磁性/涡流测量原理，测量金属基体上涂镀层厚度。仪器采用全金属外壳，经过CNC精密机械加工及阳极氧化处理，并配以不锈钢上下盖。仪器从机身到接插件均做密封处理，*符合IP68防水防尘标准。本仪器可应用于制造业、金属加工业、航天航空、铁路运输、化工业、商检业等检测领域，是无损检测行业*的仪器。
CM30新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪的详细资料
新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪
产品介绍
新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪采用磁性/涡流测量原理，测量金属基体上涂镀层厚度。仪器采用全金属外壳，经过CNC精密机械加工及阳极氧化处理，并配以不锈钢上下盖。仪器从机身到接插件均做密封处理，*符合IP68防水防尘标准。本仪器可应用于制造业、金属加工业、航天航空、铁路运输、化工业、商检业等检测领域，是无损检测行业*的仪器。
CM30涂层测厚仪可选配探头： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um。
CM30涂层测厚仪测量方法及注意事项
握住探头外壳靠近头部一端。
探头垂直落于被测物表面，直到仪器屏幕出现数值。
探头每次抬离被测物表面高度5cm以上。
若探头置于被测物表面长时间不出现读数，可抬起探头重新测量，或重启仪器。
仪器测量界面下部有探头测量状态指示图标，指示探头处于测量被测物表面（高亮白色）或是探头抬起（灰色）状态
零点调整
利用无涂、覆层的被测工件或与被测工件形状、结构相似的工件，对探头调零。
一点校准
利用无涂、覆层的被测工件或与被测工件形状、结构相似的工件测量标准试片厚度，并调整仪器数值与标准试片相同或接近。
两点校准
在一点校准的基础上，测量与第一点不同厚度的标准试片，并调整仪器数值与标准试片相同或接近。先校准厚度值较小的试片，再校准厚度值较大的试片。
技术参数
| 显示屏 | 2.4寸（320×240）IPS彩色液晶屏 |
| 工作原理 | 电磁原理/涡流原理 |
| 单位 | 公制/英制 |
分辨率 | 高/低（仅公制模式下） |
语言 | 中文/英文 |
统计数据 | 测量值个数、平均值、MAX值、MIN值、标准偏差、变异系数 |
校准方式 | 零点调整、一点校准、两点校准 |
文件数 | 200 |
存储数 | 200,000 |
背光 | 6档可调 |
关机 | 3分钟无操作后自动关机或只能手动关机 |
通讯 | 通讯软件（USB传输） |
显示模式 | 大数值模式，统计界面模式，趋势图模式 |
防护等级 | IP68 |
电源 | 2节1.5V AA电池 |
操作时间 | 20小时 |
使用环境 | -10至+50℃ 无强磁场环境 |
尺寸 | 121.5mm*63.5mm*31.5mm |
重量 | 317g（不含探头和电池 |
保修 | 1年 |
测量参数
仪器型号 | CM30F | CM30N | CM30FN | CM30FH |
| 探头型号 | F3 | N2 | FN1.5 | F10 |
| 工作原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应/电涡流 | 磁感应 |
| 测量范围（um） | 0~3000 | 0-2000 | 0-1500 | 0-10000 |
| 分辨力（um） | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
| 示值误差（um） | ±（2%H+2） | ±（2%H+2） | ±（2%H+2） | ±（2%H+10） |
| 测量最小曲率半径（mm） | 5 | 5 | 5 | 10 |