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2014-03-31
回顾涂层测厚仪技术发展的历史沿革,集中表现为以下技术特征:
B磁性涂镀层测厚仪开发现状
材料保护度测量—磁性方法》指出,磁性测厚方法的原理,或是测量*磁铁(探头)和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化,或是测量通过覆盖层和基体金属磁路的磁阻变化。因此,磁性测厚仪也包含两种类型:一类是测量某一磁体与基体金属间的磁引力;另一类是测量通过覆盖层和基体金属磁通路的磁阻。