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2014-01-14
厚度测量是涂镀层物性检测的重要项目之一,伴着新型工程材料开发,微电子技术应用和标准化事业进展,电脑膜层(漆膜)测厚技术近几年来在国内外得到迅速发展。与此同时,采取多种原理,应用范围广泛,有较高科技含量,日趋智能化的各类电脑膜层(漆膜)测厚仪相继问世,有力地推动了工程物理检测的发展。与*技术和同类产品相比,目前我国涂镀层测厚技术在总体上相当于*工业国家19世纪90年代初期水平,面对入世和经贸一体化的挑战,我们当奋起直追,增强参与竞争的适应力和创新意识,抢抓机遇,努力实现测厚技术的跨越式发展。
回顾电脑膜层(漆膜)测厚仪技术发展的历史沿革,集中表现为以下技术特征:
在*工业国家,电脑膜层(漆膜)测厚仪技术标准已自成体系,而且有多种规格的涂镀层测厚仪可同时兼顾双重原理,满足多项试验方法标准要求,因而大大地拓展其应用领域。也为我国采用*技术标准,推动国产仪器更新换代提供了借鉴与参考。