X光镀层测厚仪的使用注意事项

基体金属特性

• 对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
• 对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3）中的某种方法进行校准。

边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

读数次数

通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。