涂镀层测厚仪概述

涂镀层测厚仪即测厚仪（测厚仪）。因为测厚仪主要测量厚度的目标，就是某一物体的涂层或者是镀层。所以测厚仪又叫涂镀层测厚仪。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

原理分类

测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：

1、接触式测厚仪

接触面积大小划分：

• 点接触式测厚仪
• 面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪

非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：

• 激光测厚仪
• 超声波测厚仪
• 涂层测厚仪
• X射线测厚仪
• 白光干涉测厚仪
• 电解式测厚仪

主要类型

激光测厚仪：

是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

X射线测厚仪：

利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
 

纸张测厚仪：

适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
 

薄膜测厚仪：

用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
 

超声波测厚仪：

超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪：

适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料（如钢铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

注意事项

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：

1. 在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2. 测量时侧头与试样表面保持垂直。
3. 测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4. 测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5. 测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6. 测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7. 在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8. 在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。