a涂层测厚仪基体金属磁性质
　　
　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
　　
　　b涂层测厚仪基体金属电性质
　　
　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
　　
　　c基体金属厚度
　　
　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
　　
　　d边缘效应
　　
　　涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
　　
　　e曲率
　　
　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
　　
　　f试件的变形
　　
　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
　　
　　g表面粗糙度
　　
　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
　　
　　g磁场
　　
　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
　　
　　h附着物质
　　
　　涂层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
　　
　　i测头压力
　　
　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
　　
　　j测头的取向
　　
　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。